Substrat GaN autonome | Groupe Power Wafertech

Plaquettes GaN

Substrat GaN autonome

Les substrats autonomes (FS) de GaN sont des plaquettes de GaN en vrac qui éliminent le gabarit de croissance étranger (par exemple, saphir ou silicium), offrant une plateforme native avec une densité de dislocation significativement réduite. Cela permet une amélioration des performances, de la fiabilité et de la durée de vie des appareils dans des applications exigeantes
  • Taille 4 pouces, 2 pouces, 10*10mm2
  • Orientation cristalline Plan A/C/M, semi-polaire, non polaire
  • Densité de dislocations <5x106cm⁻² typique
  • Conduction Semi-isolant ou conducteur
Spécifications détaillées

Spécifications publiées par diamètre de plaquette.

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ParamètreSubstrat autonome GaN 4"/100 mm
Orientation cristallineC-plan (0001) / A-plan (11-20) / M-plan (10-10) / Semi-polaire / Non-polaire (personnalisé)
Épaisseur300 – 500 μm (standard) ; personnalisable
Densité de dislocationsTypiquement
Type de conduction / Dopagen-type (Si-dopé) · Semi-isolant (dopé Fe ou C)
Finition de surfacePoli Epi-ready, Ra ≤ 0,3 nm
FWHM≤ 100arc.sec
TTV≤ 15μm
Arc≤ 20μm
Surface utilisable≥ 90%
Applications

Où cette plaquette apporte de la valeur

01

Diodes laser bleues, vertes et UV (LD)

La faible densité de défauts est essentielle pour obtenir une longue durée de vie opérationnelle, un courant seuil faible et une grande fiabilité dans les lasers à émission de bord et les VCSEL.

02

Micro-LED et écrans avancés

Essentiel pour la fabrication de réseaux micro-pixels uniformes et à haute efficacité avec une variation minimale de longueur d’onde, pilotant des écrans de nouvelle génération pour les applications AR/VR et ultra-haute luminosité.

03

Dispositifs RF haute puissance / haute fréquence

La combinaison d’une excellente conductivité thermique et de propriétés semi-isolantes rend ces substrats idéaux pour les amplificateurs de puissance RF à haute linéarité et haute efficacité dans les infrastructures 5G/6G et les systèmes à ondes millimétriques.

04

R&D fondamentale et appliquée

La plateforme de référence pour explorer la physique des dispositifs GaN novatrices, les structures quantiques et les concepts optoélectroniques de nouvelle génération.

FAQ

Questions fréquentes sur ce produit

Réponses rapides sur la sélection des matériaux, la personnalisation, les tests et la commande.

La densité typique de dislocations est de <5 × 10⁶ cm⁻². Les valeurs spécifiques peuvent être discutées selon le grade et l’application requis de la plaquette.

Oui. En plus du GaN conventionnel en plan c, nous pouvons fournir des substrats en plan a, plan m, semi-polaire et non polaire selon les exigences de la structure de dispositif prévue.

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Réponse menée par l’ingénierie

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Adresse

N° 1389, route Lianmei, zone industrielle de Lianhua, Tong’an, Xiamen, Fujian 361100, Chine

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